File:Extreme ultraviolet lithography tool.jpg

原始文件(713 × 605像素,文件大小:80 KB,MIME类型:image/jpeg


描述
English: EUVL tool, that deposits virtually defect-free, ultra-thin films on integrated circuits.
日期
来源 Laser Programs, the first 25 years, 1972-1997, available from osti.gov.
作者 Lawrence Livermore National Laboratory
授权
(二次使用本文件)
Public domain 此图像是美国能源部(或前身组织)的雇员于其公务中所作的作品。由于此作品由美国联邦政府所作,其处于公有领域

请注意美国国家实验室使用不同授权条款而其中部分为自由条款核实实验室的网站政策后才可使用此标签。


العربية  English  français  日本語  македонски  മലയാളം  Nederlands  русский  українська  Tiếng Việt  简体中文  繁體中文  +/−

说明

添加一行文字以描述该文件所表现的内容

此文件中描述的项目

描繪內容

文件历史

点击某个日期/时间查看对应时刻的文件。

日期/时间缩⁠略⁠图大小用户备注
当前2011年9月22日 (四) 18:192011年9月22日 (四) 18:19版本的缩略图713 × 605(80 KB)Bomazi{{Information |Description ={{en|1=EUVL tool, that deposits virtually defect-free, ultra-thin films on integrated circuits.}} |Source =''Laser Programs, the first 25 years, 1972-1997'', available from [http://www.osti.gov/bridge/product.biblio.

全域文件用途

以下其他wiki使用此文件:

元数据